为了降低干扰，寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的，通过近场测量可以很方便的实现定位的功能，甚至可以精确到IC引脚以及具体的走线。容向公司提供各类近场探头，测试频率高达20GHz，可用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况。
近场测量方法得到的信息，能定位干扰源，从而采取相应措施以减少电磁干扰。EMC标准认证测试，是远场测试。远场测试能给出频率信息，即哪些频点超标了，但是没有位置信息。为了通过测试，需要从源头上来采取措施，所以需要应用近场测量来寻找干扰源。
宽频率范围，多种形状的探头，可以完成几乎所有的电磁场测试任务。
通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布，适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测；电场近场探头可以检测导体表面产生的电场。
无源探头，可以直接连到频谱分析仪或者示波器的50欧姆输入端，方便检查使用不同手段对磁场或者电流的变化。
使用方便，重量轻，安装快捷。
RF 1 | RF2 | RF3mini | RF4-E |
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H场探头RF-R 3-2 H 场探头RF-U 2,5-2 H 场探头RF-K 7-4 E 场探头RF-E 10 | H场探头RF-R 400-1 H场探头RF-R 50-1 H场探头RF-U 5-2 H场探头RF-B 3-2 | H场探头 RF-B 0,3-3 H场探头 RF-R 0,3-3 | E场探头 RF-E 02 E场探头RF-E 05 |
LF1 | XF1 | MFA01 | SX |
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H-场探头LF-R
400 H-场探头LF-U
2,5 H-场探头LF-U
5 H-场探头LF-B
3 | H-场探头XF-R
400-1 H-场探头XF-R
3–1 H-场探头XF-B
3–1 H-场探头XF-U
2,5–1 E-场探头XF-E
10 | H-场探头MFA-R
0,2-6 H-场探头MFA-R
0,2-75 H-场探头MFA-K
0,1-12 偏置器BT 706 | H-场探头SX-R3-1 H-场探头
SX-B3-1 E-场探头SX-E03 |
部分近场探头特性：
型号 | 说明 | 特性 |
RF-R 3–2 | 高分辨率磁场近场探头，适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率：1mm左右 | 
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RF-U 2,5-2 | 磁场近场探头，用于检测单一的小的导线和元器件连接、电容及IC引脚的磁场分布。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率： 5mm左右 | 
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RF-K 7 – 4 | 磁场近场探头，可以检测象IC下面或者宽的导体的圆形磁场。特别适合于检测扁平单元的不均匀的边缘磁场。 频率范围：30 MHz to 1 GHz 分辨率： 5mm左右 | 
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RF-E 10
| 电场近场探头，检测导体表面产生的电场。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率： 2mm左右 | 
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RF-R 400 - 1 | 磁场近场探头，可检测到10cm范围内的磁场。 主要用于机箱泄漏测试。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率：25mm左右 | 
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RF-R 50 - 1 | 磁场近场探头，可检测到3cm范围内的磁场。 主要用于机箱泄漏的精确测试。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率：10mm左右 | 
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RF-U 5 - 2 | 磁场近场探头， 主要用于线缆的电磁泄漏测试。 频率范围：30 MHz to 2 GHz 分辨率： 5mm左右 |
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RF-B 3 - 2 | 磁场近场探头，可检测垂直方向发射的电磁场。 主要用于PCB布线产生的电磁场测试。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率： 2mm左右 | 
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RF-B 0,3 - 3 | 磁场近场探头，检测垂直进入探头的磁场。适合于由表面发出的引脚点或者者是难以接触点的磁场检测。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率： <1 mm | 
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RF-R 0,3 - 3 | 高分辨率磁场近场探头，可检测与探头成垂直方向发射的电磁场，通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布，适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测。 频率范围：30 MHz to 3 GHz 分辨率： <1 mm | 
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RF-E 02 | 电场近场探头，用于检测表面电场，覆盖区域约为2 cm x5 cm，适合于总线结构或者是大的元件场合。 频率范围： 30 MHz到1.5
GHz 分辨率：<1mm | 
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RF-E 05 | 电场近场探头，用于检测单根导线表面产生的电场。 频率范围： 30 MHz到3 GHz 分辨率：<1mm | 
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